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  • DAC-IR-2S硅鋼片鐵損測(cè)儀

    產(chǎn)品型號(hào): DAC-IR-2S
    品  牌: 總研
    • ≧1 臺(tái)
      ¥21000.00
    所 在 地: 浙江寧波
    更新日期: 2024-08-22
    詳細(xì)信息
    DAC-IR-2S硅鋼片鐵損測(cè)儀
    寧波硅鋼片鐵損測(cè)儀新品上市  測(cè)量準(zhǔn)確性更高,重復(fù)性誤差小,是一款中日合資的產(chǎn)品,有一定客戶群體,是原產(chǎn)品DAC-IR-2C的升級(jí)版。

    DAC-IR-2S硅鋼片鐵損測(cè)儀可廣泛使用在硅鋼片生產(chǎn)廠家、流通領(lǐng)域、馬達(dá)、變壓器及其他利用硅鋼片制造產(chǎn)品的品質(zhì)管理,包括出貨、進(jìn)貨和成品抽樣檢驗(yàn)等,原材料及沖壓后成形的單片均可測(cè)試。主要應(yīng)用:硅鋼片的進(jìn)、出料試驗(yàn);鍛燒過(guò)程中的品質(zhì)控制;矽鋼片的品質(zhì)管理等。
    重量輕、體積小,操作簡(jiǎn)單、方便。只用一片硅鋼片材料或沖壓成品便可直接讀出以W/kg形式表示的鐵損值,無(wú)需專門(mén)制作試樣。
    空置測(cè)試或無(wú)效測(cè)試自動(dòng)斷開(kāi)等保護(hù)功能;
    帶調(diào)節(jié)功能,利用標(biāo)準(zhǔn)板,可定期校準(zhǔn)儀器的精度;
    采用觸摸按鈕,操作簡(jiǎn)便;抗電源等外界干擾功能強(qiáng);
    任意設(shè)定試品的寬度和厚度,適合各種形狀的單片測(cè)試;
    非破壞性測(cè)量方式,無(wú)需專門(mén)制作試品,直接讀取鐵損值;
    電磁鋼板 (硅鋼片)、取向和無(wú)取向、冷軋和熱軋鋼板及普通鐵板等均可使用。
    技術(shù)參數(shù):
    測(cè)試范圍:0.10~19.99 W/kg
    磁通密度:按國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)1.5T (無(wú)取向Non Oriented);1.7T (取向Oriented Grain)兩檔切換;
    試樣厚度:0.10~0.99mm;
    試樣長(zhǎng)度:20mm以上;
    試樣寬度:*小2mm ;5mm以上保證設(shè)計(jì)精度,形狀不規(guī)則(非長(zhǎng)方形)的復(fù)雜沖壓片,可任意設(shè)定相近的有效寬度;
    測(cè)試精度:≤±5% (JIS Epstein方圈法比較);
    測(cè)試頻率:50Hz;
    使用電源:AC110/220V (50Hz);
    環(huán)境條件:① 保證精度范圍:15 ~ 35 ℃;
    ② 使用溫度范圍:0 ~ 40 ℃;
    ③ 允許濕度范圍:35 ~ 85% (無(wú)露水);
    主機(jī)尺寸:W(190)x H(105)xD(295)mm ;
    重量:主機(jī)約4 Kg。
    標(biāo)準(zhǔn)配置:
    測(cè)試儀DAC-IR-2S主機(jī)      1臺(tái)
    校正用標(biāo)準(zhǔn)鐵芯(S和G)   各1片(S無(wú)取向Non oriented 和G取向Grain oriented)
    標(biāo)準(zhǔn)探頭                  1個(gè)
    電源線(帶地線的三路電線)1
    探頭連接線                1
    鋁合金收容箱              1

    DAC-IR-2S硅鋼片鐵損測(cè)儀
    ·非破壞性測(cè)量方式,無(wú)需專門(mén)制作試品,直接讀取鐵損值;
       ·任意設(shè)定試品的寬度和厚度,適合各種形狀的單片測(cè)試;
      ·采用觸摸按鈕,操作簡(jiǎn)便;
      ·帶調(diào)節(jié)功能,利用標(biāo)準(zhǔn)板,可定期校準(zhǔn)儀器的精度;
      ·抗電源等外界干擾功能強(qiáng);
      ·空置測(cè)試或無(wú)效測(cè)試自動(dòng)斷開(kāi)等保護(hù)功能;
      ·重量輕-體積小-攜帶方便。
    測(cè)試原理:
    將繞有激磁線圈和磁束檢出線U型磁鐵置于被測(cè)試樣上即開(kāi)成閉合磁路。
    如果該U型磁鐵的磁路斷面面積比試片內(nèi)磁路斷面面積大許多時(shí),則激磁線圈加電壓時(shí)所產(chǎn)生的激磁電流與磁通檢出線圈上產(chǎn)生的電壓乘積即為試片內(nèi)之損耗。
    本測(cè)定器備有試片百度和測(cè)定用磁能密度選擇開(kāi)關(guān),選擇、設(shè)定后,試片的鐵損值便可立即讀出。鐵損值可由此式得知:鐵損=試片內(nèi)損耗/試片內(nèi)磁路部分的有效重量。

    寧波硅鋼片鐵損測(cè)試儀新品:DAC-IR-2S硅鋼片鐵損測(cè)儀 
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