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彩色波形測(cè)厚儀UM-5

如果你遇到了普通 測(cè)厚儀不能解決的問 題，請(qǐng)選擇我們的 UM-5，它能*大限度的 解決各種測(cè)厚難題，為 您提供高性價(jià)比的解決 方案。寧波凱諾儀器有限公司*銷售彩色波形測(cè)厚儀 UM-5,聯(lián)系 , ,工作QQ:---原理講解

采用脈沖—回波法原理的普通超聲波測(cè)厚儀需要滿足以下兩個(gè)條件才能成功測(cè)量：

1.    *底面回波要高于閘門（閘門電平高度是固定的不可調(diào)節(jié)）。

2.    *底面回波前沒有其它雜波高于閘門（否則測(cè)出的將是產(chǎn)生雜波處的厚度）。 有時(shí)許多情況無法滿足上述要求，例如近表面高度腐蝕、粗晶材料（如鑄鐵）、鋁材料、小直徑 管、超薄板、超厚板、表面粗糙、材料內(nèi)部的不均勻、內(nèi)含缺陷、疊片結(jié)構(gòu)等等，普通超聲波測(cè) 厚儀將無能為力。

UM-5可輕松解決上述問題：

1.    可以通過調(diào)整增益和閘門高度，使*底面回波高于閘門。

2.    可以通過消隱功能使*底面回波前的其它雜波無效。 以前的棘手難題迎刃而解。

實(shí)時(shí)彩色A-掃描(LiveColorA-Scan)

用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號(hào)波型（或A掃描），這對(duì)于需要驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確的 場(chǎng)合是至關(guān)重要的。許多情況會(huì)引發(fā)錯(cuò)誤的厚度讀數(shù)甚至無讀數(shù)，根據(jù)波形能輕松找到問題所在， 然后根據(jù)波形僅需對(duì)增益（GAIN）、消隱(BLANKING)、閘門(GATE)這三個(gè)參數(shù)做適當(dāng)調(diào)整，就可 得到正確的厚度讀數(shù)。 波形的用處：根據(jù)波形驗(yàn)證厚度讀數(shù)，根據(jù)波形找到問題所在，根據(jù)波形尋求解決之道，根據(jù)波 形調(diào)整參數(shù)解決問題。

增益調(diào)整(GAIN)

調(diào)整儀器對(duì)回波信號(hào)的放大倍數(shù)，允許以ldB為單位手動(dòng)增加或減少。這個(gè)功能對(duì)聲衰減材料

（比如金屬鑄件）的測(cè)量是非常有效的。

消隱功能(BLANKING)

使紅色消隱條范圍內(nèi)的波形無效，可以略去影響測(cè)量的 有害雜波，比如因材料表面粗糙或內(nèi)部不均勻引起的噪聲。

閘門高度可調(diào)(GATE)                                                利用消隱條略去前面的噪聲

只有回波高于閘門時(shí)，儀器才認(rèn)為接收到了回波，才會(huì)有測(cè)量 值。可見閘門高度可調(diào)的重要性，尤其是在應(yīng)對(duì)低回波信號(hào)的 應(yīng)用中更是如此（比如超薄板、超厚板的測(cè)量）。

紅色箭頭

A-掃描模式有一個(gè)紅色箭頭指示測(cè)量點(diǎn)，厚度讀數(shù)就是該點(diǎn)的 橫坐標(biāo)。它可幫助判斷厚度讀數(shù)是否正確，正確測(cè)量時(shí)，紅箭

頭應(yīng)該指向*底面回波前沿。                             用PT04探頭測(cè)0.5mm薄板的波形圖

范圍(RANGE)

調(diào)整顯示在屏幕上的波形范圍，視覺上波形被壓縮或展開。如果沒有正確的設(shè)置顯示范圍，回波 波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測(cè)量值。

平移(DELAY)

調(diào)整顯示在屏幕上的波形的起始位置，視覺上波形被水平移動(dòng)。如果沒有正確的設(shè)置平移，回波 波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測(cè)量值。范圍和平移功能可將波形的任何一 部分放大顯示在屏幕上。

整流方式

可選擇射頻、正半波、負(fù)半波、全波四種整流方式。 射頻：描繪了完整的回波波形； 正半波：指去掉回波的負(fù)半波只顯示正半波； 負(fù)半波：指去掉回波的正半波而將負(fù)半波翻轉(zhuǎn)顯示為正；

全波：指回波的正半波和翻轉(zhuǎn)為正的負(fù)半波均顯示。                 設(shè)置整流模式

報(bào)警模式

可設(shè)置報(bào)警上限和報(bào)警下限。報(bào)警時(shí)波形和厚度值動(dòng)態(tài)改變顏 色。

縮減率測(cè)量

儀器具有差值和縮減率模式。差值模式顯示實(shí)測(cè)厚度與預(yù)設(shè)厚 度之間的差值變化�？s減率是計(jì)算并顯示材料變薄以后厚度縮 減的百分比。典型應(yīng)用是對(duì)因彎曲而變薄的金屬材料進(jìn)行測(cè)量。  報(bào)警時(shí)的正半波

*小/*大值模式

該模式在屏幕上同時(shí)顯示當(dāng)前厚度值、*小厚度值和*大厚度值。可沿著工件表面拖動(dòng)探頭，儀

器自動(dòng)找出*薄值和*厚值。

白色數(shù)字表示耦合                 差值/縮減率模式          *小/*大值模式,紅色數(shù)字表示報(bào)警 多種探頭可選 儀器內(nèi)置多種探頭的V聲程校正程序，分標(biāo)準(zhǔn)探頭、小徑管探頭、微型探頭、粗晶探頭、高溫探

頭，頻率范圍從2至10MHz，晶片尺寸從4至12mm。一般來說，探頭頻率越高而直徑越小，越適合

對(duì)較薄或彎曲工件的測(cè)量。

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