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    宇時超聲波測厚儀UM-3使用說明書

    2012-05-16 10:53:47  來源:

    1.儀器概況                    

    UM-3精密超聲波測厚儀采用單晶延遲探頭,利用多次回波提高精度,使分辨率可達(dá)0.001mm,測量下限達(dá)0.3mm 。UM-3具有普通和精密兩種工作模式。普通模式采用界面波-回波法,測量范圍是1.5mm~18mm ;精密模式采用回波-回波法,測量范圍是0.3mm~10mm。
    UM-3精密超聲波測厚儀的工作原理如下:
               厚度= (聲速×時間)/ n
    注:n 為回波次數(shù),回波次數(shù)越多測量精度越高
    1.1 模式切換
    按MENU鍵,當(dāng)反黑顯示普通或精密時,按鍵可進(jìn)行普通和精密兩種模式的切換。
    1.2 基本配置及各部分名稱
    1.2.3儀器各部分名稱(見下圖)


     
    液晶屏顯示:
    m/s  ——聲速單位               凸   ——耦合標(biāo)志           mm   ——厚度單位
    HIGH —0.001mm分辨率    MID  —0.01mm分辨率   LOW —0.1mm分辨率     
    BATT ——低電壓標(biāo)志           測量時左下角數(shù)字是回波次數(shù)
    鍵盤功能說明:
    ON    ——開機(jī)鍵               VEL ——聲速鍵
    MENU ——菜單鍵             MEM  ——存儲鍵
    CAL   ——校準(zhǔn)鍵                ——背光鍵
    ——回車鍵                  △、▽——上、下調(diào)節(jié)鍵
     
    1.2.1標(biāo)準(zhǔn)配置:
    ●主機(jī)——1臺      ●單晶延遲探頭——1個   ●探頭線——1條       
    ●耦合劑——1 瓶    ●儀器密封箱——1個       ●使用說明書——1本
    ●電池——2節(jié)
    1.2.2選購件:
    ●通信軟件及電纜                           ●階梯試塊
    2.超聲波測厚儀技術(shù)參數(shù)
    ★     顯示方式:128×64大屏幕點陣液晶屏顯示
    ★     普通模式測量范圍:1.5 mm~18 mm
    ★     精密模式測量范圍:0.3 mm~10 mm      
    ★     顯示分辨率:毫米:0.001,0.01,0.1
                                     英寸:0.0001,0.001,0.01
    ★     測量刷新頻率:常規(guī)測量時4Hz,*小值掃查時25Hz
    ★     聲速調(diào)節(jié)范圍:1000~9999 m/s
    ★     使用環(huán)境:0℃~40℃
    ★     電源:二節(jié)5號堿性電池
    ★     外形尺寸:149×73×32 mm
    ★     重量:200g(含電池)
    3.主要功能
    ★     具有普通和精密兩種工作模式
    ★     厚度值存儲:可存儲500個厚度值,關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)不丟失,并且劃分為五個文件,便于對數(shù)據(jù)的管理
    ★     厚度報警:可設(shè)置厚度界限,對限界外的測量值自動報警
    ★     *小值捕獲(也稱掃查模式):捕獲測量過程中的*小值
    ★     兩點校準(zhǔn):測量曲面壁厚或特殊應(yīng)用時,可提高測量的精度
    ★     支持毫米和英寸兩種厚度單位
    ★     可存儲5種不同材料的聲速
    ★    校準(zhǔn)值自動存儲,關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)不丟失
    ★     刪除功能:對文件中的可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除所有已存儲數(shù)據(jù)以便存儲新的數(shù)值
    ★     具有背光顯示,為夜間工作帶來方便
    ★     低電壓提示
    ★     自動關(guān)機(jī):如果5分鐘內(nèi)沒進(jìn)行任何操作,儀器自動關(guān)機(jī)
    ★     耦合狀態(tài)提示:通過觀察耦合標(biāo)志的穩(wěn)定性可知耦合是否正常
    ★     支持中文、英文兩種語言界面
    4.超聲波測厚儀測量步驟
    4.1 儀器準(zhǔn)備
    將探頭插頭插入主機(jī)探頭插座中,按一下ON鍵,聽到兩次蜂鳴聲屏幕出現(xiàn)顯示,其中顯示的聲速為上次關(guān)機(jī)前使用的聲速,顯示內(nèi)容見下圖:
     
     
    4.2 超聲波測厚儀聲速的設(shè)定
    當(dāng)已知材料聲速,可以利用儀器提供的聲速手動調(diào)節(jié)功能,并依據(jù)附表中的參考聲速值,調(diào)整儀器的內(nèi)置聲速值。聲速存儲器可存儲五個聲速值。具體操作步驟如下:
    如果當(dāng)前顯示屏顯示的是非聲速值,那么按VEL鍵進(jìn)入聲速狀態(tài),屏幕將顯示當(dāng)前聲速存儲單元的內(nèi)容。之后,每按一次VEL鍵,聲速數(shù)值就變化一次,可循環(huán)顯示五個聲速值,見下圖:
     
     
    如果當(dāng)前聲速存儲器內(nèi)沒有所需聲速值,可用△或▽鍵調(diào)整到所需值即可,同時將此值存入聲速存儲器內(nèi)以便下次使用。見下圖:
      
     
    在調(diào)整聲速數(shù)值時,屏幕上的▲可在數(shù)值的個位、十位或百位的下方,當(dāng)▲在個位、十位、百位的下方時,每按一次△或▽鍵,數(shù)值將依次加或減1、10、100,可以通過回車鍵實現(xiàn)▲在個位、十位或百位下方的切換。
    4.3 聲速的測量
    在被測材料的聲速未知時,在測量厚度前必須進(jìn)行聲速校準(zhǔn)。
    注:準(zhǔn)備與被測物體成分相同的測試塊,其表面必須適于測量,用游標(biāo)卡尺測量測試塊厚度。
    具體步驟如下:
    ①在現(xiàn)有的儀器狀態(tài)下,測量已準(zhǔn)備好的同質(zhì)并已知厚度的試塊。屏幕顯示測量的厚度值。
    ②按VEL聲速鍵,利用△或▽鍵調(diào)整聲速值,直到測量值與已知厚度相等,這時的聲速值就是該材料的聲速。
    ③該聲速自動被存入當(dāng)前的聲速存儲單元。
    注意:利用儀器自帶的4mm鋼試塊校準(zhǔn)時,聲速要調(diào)整到5900m/s。在測量非鋼材料前,把聲速調(diào)整到該材料的聲速值。
    4.4 超聲波測厚儀儀器校準(zhǔn)
    4.4.1   快捷校準(zhǔn)
    選擇與被測材料聲速及曲率相同的標(biāo)準(zhǔn)試塊,如果UM-3的厚度測量值與該試塊的厚度不符,利用△或▽鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值,使其與試塊的實際厚度相等,然后按下CAL鍵結(jié)束校準(zhǔn)。
    注:UM-3測厚儀不須校準(zhǔn)直接測厚,注意聲速的調(diào)節(jié)。
    4.4.2兩點校準(zhǔn)
    測量曲面壁厚或特殊應(yīng)用時,為了提高測量的精度,可進(jìn)行兩點校準(zhǔn),詳見第7章第5節(jié)。
    4.4.3快捷校準(zhǔn)與兩點校準(zhǔn)的區(qū)別
    快捷校準(zhǔn)與兩點校準(zhǔn)的區(qū)別有以下幾點:
    ①快捷校準(zhǔn)用隨機(jī)試塊,聲速為5900m/s。兩點校準(zhǔn)可用任意材料和厚度的試塊。
    ②快捷校準(zhǔn)只需一塊試塊。兩點校準(zhǔn)需要兩塊厚度不同的試塊。
    4.5 測量厚度
    儀器校準(zhǔn)后,設(shè)置好聲速值,然后將耦合劑涂于被測處,將探頭與被測材料耦合即可測量,屏幕將顯示被測材料的厚度值。見下圖:

     
    說明:當(dāng)探頭與被測材料耦合時,屏幕上將顯示“凸”耦合標(biāo)志;“凸”標(biāo)志右側(cè)的數(shù)字是回波次數(shù),回波次數(shù)值越大測量精度越高。當(dāng)耦合標(biāo)志閃爍或不出現(xiàn)則說明沒耦合好。拿開探頭后,厚度值保持不變,耦合標(biāo)志消失。見下圖:

     
    5.厚度值的存儲與查閱
    5.1 存儲厚度值
    厚度值的存儲分5個文件,每個文件可存儲100個測量值。
    首先,選擇存儲文件號。按MENU鍵,使屏幕反顯查閱,見下圖:
      

     
     
    按回車鍵,5個文件號可循環(huán)顯示,當(dāng)選擇所需的文件號后,再按MENU鍵使屏幕顯示存儲字樣,即存儲文件號選擇完畢。見下圖:
       
     
    其次,測量厚度值。
    *后,存儲厚度值。測量厚度值后,屏幕將顯示該厚度值。此時,按下MEM鍵即可存儲該厚度值。存儲完成后屏幕左下方顯示一次“Memory”,即證明已存儲該厚度值。
    5.2 厚度值的查閱
    按MENU鍵,使屏幕反顯查閱,然后,按回車鍵,5個文件號可循環(huán)顯示,選擇需查閱的文件號,見下圖:
      
     
    *后,按MEM鍵進(jìn)入該文件。見下圖:

     
    說明: No. : 表示當(dāng)前顯示的存儲數(shù)據(jù)的序號;Total : 表示當(dāng)前文件中存儲數(shù)據(jù)的總數(shù)量。
    此時,可通過△或▽鍵進(jìn)行翻閱查看,查閱完畢后,按MENU鍵或進(jìn)行測量即可返回主界面。
    6.刪除操作
    6.1 刪除單個厚度值
    在查閱存儲數(shù)據(jù)狀態(tài),按下回車鍵即可刪除當(dāng)前顯示的存儲值。
    具體步驟如下:
    ①進(jìn)入查閱存儲數(shù)據(jù)狀態(tài),方法前面已介紹。見下圖:

     
    ②按回車鍵刪除當(dāng)前值,顯示下一個存儲值。見下圖:
      
     
    6.2 刪除當(dāng)前文件
    要刪除當(dāng)前文件的所有內(nèi)容,具體操作如下:
    ①按MENU鍵將光標(biāo)移至“功能”處,見下圖:
        
     
    再按回車鍵進(jìn)入功能菜單并通過▽鍵選定功能設(shè)置。見下圖:

     
    ②按回車鍵進(jìn)入該界面,再通過△或▽鍵選定“刪除當(dāng)前文件”。見下圖:
        
     
    ③選定后,按回車鍵屏幕出現(xiàn)如下顯示:
      
     
    此時,按回車鍵將刪除當(dāng)前文件,按MENU鍵返回上個界面。
    ④刪除完成后,按VEL鍵或按MENU鍵均可返回主界面。
    6.3 刪除所有文件
    要刪除所有文件中的數(shù)據(jù),步驟同上。只需選定“刪除所有文件”即可。
    6.4 刪除校準(zhǔn)數(shù)據(jù)
    要刪除校準(zhǔn)數(shù)據(jù),步驟同上。只需選定“刪除校準(zhǔn)數(shù)據(jù)”即可。
    7.系統(tǒng)和功能設(shè)置
    7.1 系統(tǒng)設(shè)置
    按MENU鍵將光標(biāo)移至“功能”處,見下圖:
      
     
    然后按回車鍵進(jìn)入功能菜單,此時屏幕顯示見下圖:
        
     
    此時,光標(biāo)在“系統(tǒng)設(shè)置”項上,(如果不是在此項上可用△或▽鍵上下移動將光標(biāo)移在“系統(tǒng)設(shè)置”項上),按回車鍵進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單,用△或▽鍵上下移動選擇需修改項,然后按回車鍵可進(jìn)行修改。
    系統(tǒng)設(shè)置中共有5個選項,依次為:單位(公制、英制);分辨率(高、中、低);*小值捕獲;兩點校準(zhǔn);語言,用戶可以根據(jù)實際需要進(jìn)行設(shè)置。設(shè)置完成后,按MENU鍵或進(jìn)行測量可返回主頁面。
    7.2 功能設(shè)置
    按MENU鍵將光標(biāo)移至“功能”處, 然后,按回車鍵進(jìn)入功能菜單,再通過△或▽鍵選擇功能設(shè)置。見下圖:
        
     
    再按回車鍵進(jìn)入功能設(shè)置菜單,通過△或▽鍵上下移動光標(biāo)選擇相應(yīng)的功能項。
    功能設(shè)置中共有4個選項,依次為:刪除當(dāng)前文件;刪除所有文件;刪除校準(zhǔn)數(shù)據(jù);調(diào)節(jié)亮度;4個選項,用戶可以根據(jù)實際需要進(jìn)行設(shè)置。設(shè)置完后,按MENU鍵或進(jìn)行測量可返回主頁面。
    7.3 測量單位及分辨率的設(shè)定
    UM-3提供兩種測量單位:公制和英制;兩種顯示分辨率:0.1mm和0.01mm。用戶可以根據(jù)實際的需要進(jìn)行設(shè)定。
    具體的設(shè)定步驟如下:
    ①              進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單,通過△或▽鍵將光標(biāo)移至“單位”處,按回車鍵可循環(huán)調(diào)節(jié)METRIC(公制)、IMPERIAL(英制)選項,見下圖:
       
     
    ②進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單,通過△或▽鍵將光標(biāo)移至“分辨率”處,按回車鍵可循環(huán)調(diào)節(jié)HIGH(0.01mm)、LOW(0.1mm)選項,見下圖:
       
     
    7.4 *小值捕獲
    所謂*小值捕獲是指在測量過程中捕捉測量值中的*小值。設(shè)置*小值捕獲的步驟如下:
    ①     進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單,將*小值捕獲設(shè)置為ON。見下圖:


     
    ②設(shè)置完畢,按MENU返回主界面(OFF是關(guān)閉*小值捕獲;ON是開啟*小值捕獲)。見下圖:

     
    說明:啟用*小值捕獲后,探頭與工件耦合時,屏幕顯示的是當(dāng)前測量值;當(dāng)探頭抬起時,屏幕顯示的是測量中的*小值,并且*小值標(biāo)志MIN閃爍6次。如果在MIN閃爍期間繼續(xù)測量,當(dāng)前測量值將繼續(xù)參加*小值捕捉,如果MIN停止閃爍后再進(jìn)行測量,將重新捕捉*小值。
    7.5 超聲波測厚儀兩點校準(zhǔn)
    選擇兩個與被測材料、聲速及曲率相同的標(biāo)準(zhǔn)試塊,其中一個試塊的厚度接近測量范圍的上限,另一個試塊的厚度接近測量范圍的下限,進(jìn)行兩點校準(zhǔn)可以提高測量精度,進(jìn)行兩點校準(zhǔn)之前應(yīng)先將兩點校準(zhǔn)功能打開,關(guān)閉*小值捕獲。具體步驟如下:
    ①進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單,將兩點校準(zhǔn)設(shè)置為ON。見下圖:
      
     
    ②設(shè)置完畢后,按MENU鍵返回主界面。如果兩點校準(zhǔn)被設(shè)為ON,那么在測量的狀態(tài)下可隨時進(jìn)行兩點校準(zhǔn)。
    ③進(jìn)行校準(zhǔn)操作。具體步驟如下:
    首先,測量薄塊的厚度,在厚度顯示狀態(tài)下按CAL鍵,屏幕提示校準(zhǔn)薄塊,見下圖:
      
     
    通過△或▽鍵將測量值調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)值,按CAL鍵,屏幕提示校準(zhǔn)厚塊,見下圖:

     
    測量厚的標(biāo)準(zhǔn)試塊,同樣通過△或▽鍵將測量值調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)值,再按CAL鍵,完成校準(zhǔn)操作,即可進(jìn)行測量。
    7.6 亮度調(diào)節(jié)
    具體的操作步驟如下:
    ①進(jìn)入功能設(shè)置菜單,通過△或▽鍵將光標(biāo)移至“調(diào)節(jié)亮度”處,見下圖:
      
     
    ②按回車鍵進(jìn)入調(diào)節(jié)亮度界面,見下圖:
      
     
    此時,可以通過△或▽鍵調(diào)節(jié)亮度,調(diào)節(jié)完畢后,按回車鍵返回上個界面,再按MENU鍵返回主界面。
    7.7 上下限設(shè)定
    本儀器可分別設(shè)定上限值及下限值,以便快速測量。
    具體設(shè)置步驟如下:
    ①在功能界面下按上下鍵使光標(biāo)移至“出界報警”處,見下圖:

     
    ②按回車鍵進(jìn)入界限界面,屏幕顯示原設(shè)置的下限或上限,見下圖:
     
     
    此時,按回車鍵上限和下限可循環(huán)顯示;通過△或▽鍵設(shè)置新的下限或上限值。
    ③設(shè)置完畢后,按VEL鍵或按MENU鍵或進(jìn)行測量都可退出限界設(shè)置界面。
    當(dāng)測量范圍超出所設(shè)定的上下限時,儀器自動報警,蜂鳴器鳴響。
    7.8 背光功能
    儀器提供背光功能,以便在光線暗處閱讀測量值。但請注意節(jié)電。
    按     鍵背光亮,再按一下,背光滅;蛘撸P(guān)機(jī)后,背光功能自動關(guān)閉。
    7.9 低電壓提示功能
    如果屏幕上顯示BATT標(biāo)志,說明電池電壓低,應(yīng)及時地更換新電池再繼續(xù)使用。見下圖:
        
     
    7.10 關(guān)機(jī)方式
    UM-3設(shè)有自動關(guān)機(jī)和手動關(guān)機(jī)兩種方式,約五分鐘內(nèi)不進(jìn)行任何操作,那么儀器將自動關(guān)機(jī);按MENU鍵將光標(biāo)移至關(guān)機(jī)處,再按回車鍵即可手動關(guān)機(jī)。
    8.測量應(yīng)用技術(shù)
    8.1工件表面要求
    8.1.1清潔表面
    測量前應(yīng)清除被測物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物等覆蓋物。
    8.1.2提高粗糙度要求
    過分粗糙的表面會引起測量誤差,甚至儀器無讀數(shù)。測量前應(yīng)盡量使被測材料表面光滑,可使用磨、拋、銼等方法使其光滑。還可使用高粘度耦合劑。
     
    8.2.1單點測量法
    在被測體上任一點,利用探頭進(jìn)行測量,顯示值即為厚度值。
    8.2.2兩點測量法
    在被測體的同一點用探頭進(jìn)行二次測量,在二次測量中,探頭的分割面成90度,較小值為厚度值。
    8.2.3多點測量法
    在直徑約為30mm的圓內(nèi)進(jìn)行多次測量,取其*小值為厚度值
    8.2.4連續(xù)測量法
    用單點測量法,沿指定線路連續(xù)測量,其間隔不小于5mm,取其中*小值為厚度值。
    9.維護(hù)及注意事項
    9.1 電源檢查
    電源電壓低時,儀器顯示低電壓提示符號,此時應(yīng)及時按要求更換電池,以免影響測量精度。背光不能長時間打開,以免過快消耗電池電量。
    按下述方式更換電池即可:
    ①關(guān)機(jī)
    ②打開電池倉蓋
    ③取出電池,放入新電池,注意極性
    儀器長時間不使用時應(yīng)將電池取出,以免電池漏液,腐蝕電池盒與極片。
    9.2 注意事項
    9.2.1一般注意事項
    ①避免儀器及探頭受到強(qiáng)烈震動
    ②避免將儀器置于過于潮濕的環(huán)境中
    ③拔插探頭時,應(yīng)捏住活動外套沿軸線用力,不可旋轉(zhuǎn)探頭,以免損壞探頭電纜芯線。
    ④由于使用隨機(jī)試塊對儀器進(jìn)行檢測時,需涂耦合劑,所以請注意防銹。使用后將隨機(jī)試塊擦干凈。氣溫較高時不要沾上汗液。長期不使用應(yīng)在隨機(jī)試塊表面涂上少許油脂防銹,當(dāng)再次使用時,將油脂擦凈后即可進(jìn)行正常工作。
    ⑤酒精、稀釋液等對機(jī)殼尤其是視窗有腐蝕作用,故清洗時,用少量清水輕拭即可。
    9.2.2測量時的注意事項
    ①測量時,只有耦合標(biāo)志出現(xiàn)并穩(wěn)定時,才是良好測量。
    ②若探頭磨損,測量會出現(xiàn)示值不穩(wěn),應(yīng)更換探頭。
    9.3 超聲波測厚儀維修
    如出現(xiàn)以下問題請與我廠維修部聯(lián)系:
    ①儀器器件損壞,不能測量。
    ②顯示屏顯示不正常。
    ③正常使用時,誤差過大。
    ④鍵盤操作失靈或混亂。
    由于UM-3系列超聲波測厚儀為高科技產(chǎn)品,所以維修工作應(yīng)由受過*培訓(xùn)的維修人員完成,請用戶不要自行拆卸修理。
    附表1:各種材料的聲速
     

    介質(zhì)材料名稱

    聲速(m/s)
    6320
    6200
    4700
    3240
    5930
    2400
    5750
    3600
    5900
    5990
    4170
    5174
    3320
    黃銅 4280-4700
    鑄鐵 4400-5820
    玻璃 5260-6120
    尼龍 2680
    不銹鋼 5740
    水(20℃) 1480
    甘油 1920
    水玻璃 2350
     
    注:上表聲速僅供參考,實際聲速校準(zhǔn)參照4.3 聲速的測量
    UM-3精密超聲波測厚儀UM-3精密超聲波測厚儀UM-3精密超聲波測厚儀
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